Congreso internacional:
Año: 2000, FREQUENCY DOMAIN REDUCED-ORDER MODELS TO CHARACTERIZE MICROWAVE CIRCUITS FROM MEASURED S-PARAMETERS
Medio de publicación:
Congreso: MEDITERRANEAN MICROWAVE SYMPOSIUM 2000. Tetuan, Marocco. May 10-12, 2000. (pp.126-129).
Autores: José M. Gómez, M.G. Sanz and José I. Alonso.
Resumen:
FREQUENCY DOMAIN REDUCED-ORDER MODELS TO CHARACTERIZE MICROWAVE CIRCUITS FROM MEASURED S-PARAMETERS
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